MS104TS/02梅特勒電子天平 結(jié)果可信且使用方便. 高級分析天平: 120 g量程、0.1 mg可讀性、7''觸摸屏、全金屬機身、高性能稱重傳感器、FACT、11個易于使用的應(yīng)用程序、高級連接和數(shù)據(jù)管理、用戶管理、易于清潔 易于操作。
梅特勒電子天平MS204TS/02 結(jié)果可信且使用方便. 高級分析天平: 220 g量程、0.1 mg可讀性、7''觸摸屏、全金屬機身、高性能稱重傳感器、FACT、11個易于使用的應(yīng)用程序、高級連接和數(shù)據(jù)管理、用戶管理、易于清潔。
梅特勒托利多電子天平MS304TS/02 結(jié)果可信且使用方便. 高級分析天平: 320 g量程、0.1 mg可讀性、7''觸摸屏、全金屬機身、高性能稱重傳感器、FACT、11個易于使用的應(yīng)用程序、高級連接和數(shù)據(jù)管理、用戶管理、易于清潔
梅特勒托利多XP系列工業(yè)微量分析天平 標準量程:1g/81g/101g/220g/520g,精度選擇:0.1-0.01mg。梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領(lǐng)域中的又一里程碑。革命性的創(chuàng)新設(shè)計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數(shù)據(jù)管理的安全性設(shè)立了新的標準。
XP系列梅特勒十萬分之一位工業(yè)分析天平 梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領(lǐng)域中的又一里程碑。革命性的創(chuàng)新設(shè)計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數(shù)據(jù)管理的安全性設(shè)立了新的標準。標準量程:1g/81g/101g/220g/520g 精度選擇:0.1-0.01mg
梅特勒分析天平 MS105DU/A 用于滿足更高的精確度需求. 半微量天平用于稱量小的樣品: 120 / 42 g 處理能力,0.1 / 0.01 mg 可讀性,高分辨率稱重傳感器,全自動校準技術(shù) (FACT),符合人體工學的門,移液器檢測應(yīng)用
梅特勒托利多分析天平 MS205DU/A 用于滿足更高的精確度需求. 半微量天平用于稱量小的樣品: 220 / 82 g 處理能力,0.1 / 0.01 mg 可讀性,高分辨率稱重傳感器,全自動校準技術(shù) (FACT),符合人體工學的門,移液器檢測應(yīng)用
梅特勒電子天平ML104T/02 后置式電磁力傳感器,精度高,反應(yīng)速度快,數(shù)據(jù)穩(wěn)定。2ppm/℃的超低靈敏度漂移。天平內(nèi)置校準砝碼,隨時方便校準。超/欠載報警,動態(tài)溫度補償。
梅特勒電子天平ML204T/02 小體積,大智慧. 緊湊型天平適合多種用途: 220 g 處理能力,0.1 mg 可讀性,4.5“ 觸摸屏,全自動校準技術(shù) (FACT),LevelControl 水平控制系統(tǒng),電池供電
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